IMLD-B型中空玻璃露點儀（半導體制冷）是我公司根據GB/T11944—2012《中空玻璃》的規(guī)定條件自主研發(fā)與生產的試驗設備。用來測量中空玻璃的露點，檢測中空玻璃試樣內表面在標準規(guī)定條件和方法情況下是否結露。

IMLD-A型中空玻璃露點儀（干冰式）用來測量中空玻璃的露點，一般是將測量器件放置在試樣的表面，將溫度冷卻到等于或低于-60℃并保持此溫度，達到設定的時間以后，觀察試樣的結露情況。干冰式中空玻璃露點儀是利用干冰的低溫度點，使測試器件達到我們試驗的要求。